기계 비전 기반의 하드웨어 산업에서의 전형적인 가공 사례

기계 비전 시스템의 개발과 최적화는 점차적으로 많은 기존 수작업 검사 작업을 대체하고 있습니다. 오늘은 하드웨어 가공 산업에서 기계 비전 검사 시스템이 적용된 몇 가지 사례를 간략히 설명하겠습니다.

1. 내부 나사산 결함 검출

• 샘플 이미지

• 사용된 조명: 돔 조명 + 프리즘 모듈

• 사례 설명:

원통형 나사의 경우 곡면이 검사에 어려움을 초래한다. 기존 조명 방식은 결함의 일부만을 확인하기 위해 카메라 렌즈를 기울여야 하며, 이로 인해 여러 번 촬영하거나 제품을 회전시켜야 하는 경우가 많다. 프리즘 모듈을 적용하면 제품 내벽을 네 부분으로 나누어 단 한 번의 촬영으로 이미징할 수 있다. 돔 조명은 다중 확산 각도와 균일한 조명 덕분에 유효한 이미징 호 길이를 증가시킨다. 따라서 돔 조명과 프리즘 모듈의 조합은 결함을 더욱 선명하고 포괄적으로 검출할 수 있다.

2. 하드웨어 구리판 외관 검사

• 샘플 이미지

• 사용된 조명: 저각도 링 조명

• 사례 설명:

제품의 중앙은 은백색 금속으로 되어 있으며, 플라스틱 필름으로 둘러싸여 있습니다. 큰 축상 링 조명(로우 앵글)을 사용하면 주변 반사를 방지하는 동시에 중앙 금속 표면을 밝게 비추어 밝은 시야를 확보할 수 있습니다. 결함은 빛의 산란으로 인해 어둡게 나타나 밝은 배경과 선명한 대비를 이룹니다.

3하드웨어 핀 팁 검사

• 샘플 이미지

• 사용된 조명: 고각도 링 조명

• 사례 설명:

하드웨어 부품의 핀은 원뿔형입니다. 수직 입사광을 사용하되, 이를 주로 중간에서 낮은 각도의 다각적 조명으로 변환함으로써 핀 팁을 밝게 조명하면서 원뿔형 측면에는 직접적인 조명이 가지 않도록 합니다. 이를 통해 핀 팁이 더욱 강조되며, 이미지 처리의 난이도가 줄어듭니다.